ESEC2016 第19回組込みシステム開発技術展 ご来場御礼
お客様各位
拝啓 貴社益々ご清栄の段お喜び申し上げます。
2016年 5/11(水) ～ 5/13(金):3日間 東京ビッグサイトで開催された、｢組込みシステム開発技術展」（ESEC2016）へ出展致しました。皆様より多数のご来場をいただきましたことに、改めて感謝申し上げます。
出展報告
組込みシステム開発技術展ESEC (主催 : リードエグジビション ジャパン株式会社) は、組込みシステム開発に必要なハードウェア・ソフトウェア・コンポーネントから開発環境までが一堂に集まる日本最大の専門展です。
ダイチューテクノロジーズでは、SAS12G対応製品4セルタイプの「HDD/SSD Tester D010」にて、卓上小型2セルタイプの「HDD/SSD Tester D020」、４スロットPCIe SSD対応の製品「HDD/SSD Tester D011P(仮称、参考出品)」、Intel NUC PCを使用した超小型試験ユニット（参考出品）や、堅牢さを重視したアタッシュケース型試験装置「モデルD007」、さらには温度環境試験装置「モデルD030」を出展致しました。
TDK様ブース
TDK様ブースでの、当社D010モデルを使用しての、SSD電源遮断試験デモンストレーションを展示させていただきました。 
ダイチューテクノロジーズブース
出展製品
SAS12G対応のD010シリーズ試験装置。従来のD010 8セル対応の試験装置の筐体を使用してるが、上部4セルのみの限定対応となっている。 
恒温槽付の自動試験装置 モデルD030 
4スロット対応PCIe SSD試験装置（写真右側のラック）。4レーン対応PCIe SSD(NVMe)の性能試験を参考展示。左側のボックスは制御部品本体。 
Intel社製 NVMe-architected PCIe SSD PC3700シリーズSSD。インターフェイスは、ｘ４PCI Express3.0 NVMe対応。 
Intel NUCを使用した小型試験ユニット（参考出展）。写真はSSDの性能試験を行っいる。モニターやキーボードを外せば、単独でSSDのロングラン試験が可能。恒温槽などにデバイスのみを入れて、環境試験も単独で可能となる。さらにはVNCツールをネットワーク環境で使用すれば、複数台の試験ユニットをリモートからの管理も可能となる。