ESEC2013 ご来場御礼
2013年 5/8(水)～5/10(金):3日間 東京ビッグサイトで開催された、｢組込みシステム開発技術展」（ESEC2013）へ出展致しました。皆様より多数のご来場をいただきましたことに、改めて感謝申し上げます。
出展報告
組込みシステム開発技術展ESECは（主催：リード エグジビション ジャパン株式会社）は、組込みシステム開発に必要なハードウェア・ソフトウェア・コンポーネントから開発環境までが一堂に集まる日本最大の専門展です。
今回は、ＤＵＸ様・ＴＤＫ様との共同出展をさせて頂きまして、ダイチューでは、組み込みに必要な試験装置、8セルタイプの「HDD/SSD Tester D010」と小型軽量2セルタイプの「HDD/SSD Tester D020」、温度ストレス試験が可能な新製品、「HDD/SSD Tester D030CHM」、オプションの変換アタッチメント各種、来月発売予定の16セルの拡張ボックスラックで構成された製品、「HDD/SSD Tester D011G-3S1EX16」を、参考出展としてスクリーニングサービスやコピーサービスに弊社が使用している「HDD/SSD Tester D040」を、チップタイプのSSD試験装置「PH-mini」、現場への持込可能なハンディタイプの「HDD/SSD Tester PC Box」を出展させて頂きました。また、バッファローメモリ様ブースには「D020」を使用したデモンストレーション（電源遮断・書込み）を実施されておりました。
弊社ブースでは、eSSDの評価試験、HDDのデュプリケーション、温度ストレス試験、チップタイプのSSDの実装試験のデモを行いました。昨年同様、多くの方々に見て頂けました。
■DUX様ブース
■TDK様ブース
■DUX様/TDK様/ダイチューブース
