第15回組込みシステム開発技術ESEC 出展のご報告

ESEC2012　ご来場御礼

2012年 5/09(水)～5/11（金）東京ビッグサイトで開催された、｢組込みシステム開発技術展」（ESEC2012）へ出展致しました。皆様より多数のご来場をいただきましたことに、改めて感謝申し上げます。

出展報告

組込みシステム開発技術展ESECは（主催：リードエグジビションジャパン株式会社）は、組込みシステム開発に必要なハードウェア・ソフトウェア・コンポーネントから開発環境までが一堂に集まる日本最大の専門展です。
ダイチューでは、組み込みに必要なHDDとSSDの試験装置、8セルタイプの「HDD/SSD Tester D010」と小型軽量2セルタイプの「HDD/SSD Tester D020」、今年から販売開始している温度ストレス試験が可能な新製品「HDD/SSD TesterD030CHM」、参考出展としてスクリーニングサービスやコピーサービスに弊社が使用している「HDD/SSD Tester D040」を出展させて頂きました。なお、TDK様とは昨年同様ご協力頂き、今年は「D020」を、ハギワラソリューションズ様ブースにも出展させて頂きました。
弊社ブースでは、SSDの電源遮断・瞬停試験、正常なHDDと不具合のあるHDD、高速のSSD(SATA3)のパフォーマンス測定、温度ストレス試験のデモを行いました。昨年同様、多くの方々に見て頂けました。